标签：碟片 记录 而且 空间 检测 plist基本缺陷列表 primary defect list
在上一节，我们分析了物理坏道与逻辑坏道的原理同成因，同时也提到了一个很重要的一个点，——PLIST基本缺陷列表与GLIST 成长缺陷列表
为什么对于硬盘来讲，这两个表这么重要呢？因为坏道的多少，是会影响读盘的速度的。而且坏道还会对周边的磁道蔓延，所以要把这一部分的坏道进行屏蔽处理，就要用到G转P的操作。
PLIST基本缺陷列表Primary Defect List
在每只硬盘在生产的时候，其实不可避免会产生有部分碟片磁介质不均匀，或者有损坏的地区，对于这部分在生产过程中产生的不稳定的扇区，工厂就会使用一个PLIST 来记录下来。
硬盘厂家做低格时候做的一个列表。我们也叫做“永久缺陷表”，这些记录地址在硬盘运行时候自动被跳过，所以P列表不影响硬盘的存取速度。
GLIST 成长缺陷列表GrownDefect List
G列表是在硬盘使用中出现的列表，我们也叫做“增长”缺陷表，这些记录地址随着用户使用硬盘，硬盘检测到某些区域可能存在缺陷（坏扇区），自动重新映射到出厂时预留的空间
用来保护用户数据的访问安全。由于G列表带来的是重映射，而非跳过，也就意味着硬盘首先寻找到坏的区域然后再映射到安全区域，这样就会造成硬盘存取速度的减慢.
看到这儿估计大家对GLIST 与 PLIST 只会有种快同慢的对比感觉。那么是什么原因造成的呢？为什么PLIST 不影响硬盘存取速度，而GlIST却会影响到呢？
那么我们先由一个硬盘的扇区分配说起。
在硬盘里面，除了我们平时见到的用户储存数据工作区，其实还含着另外两个区——固件区与保留区。
但在实际中，固件区与保留区，用户是没有办法操作的，硬盘的实际扇区数比我们在标签上见到的容量是要大的，（其实工厂在生产时，并不会只单独开生产线1T或者 2T的硬盘，他们会批量生产好同一款的硬盘，通过设定好固件信息，去为硬盘定义好容量。）在固件里，工厂会定义好硬盘的容量，超过了容量的那些扇区，我们会称他们为保留区。
如图（1）所示，蓝色为固件区，白色为工作区，绿色为保留区，红色为坏区。当红色的坏扇区6还没有加入Plist 或者Glist的时候，工作区的数字LAB 是由 0到29 ，第29之后就是保留区。
图（1）
坏道 加入PLIST的情况
当坏道加入PLIST 之后，记录地址在硬盘运行时候自动被跳过，硬盘不会再读写该扇区，所以该扇区的所有地址LAB值都发生了变化，第29区，会顺延到保留扇区的一个扇区。由于所有的LAB都产生了变化，所以坏道被加入PLIST之后，是需要进行一次工厂的低格化。
图（2）
图（3）
坏道 加入GLIST的情况
当坏区加入到GLIST这后，硬盘需要读到坏区所在的扇区，会被重新定位到保留区的一个扇区，硬盘区的其他扇区不会受到影响，LAB不会有变化。由于保留区是离工作区相对远的区域，在内道，所以当磁头读取该扇区的数据时，需要移动较远的距离，所以该LAB的读取速度就会变慢，所以说加入GLIST之后，是会影响硬盘的读写速度。
下一节，我们来探讨一下Glist表转Plist的实战示范。
本文出自 “EST硬盘之家” 博客，转载请与作者联系！
标签：碟片 记录 而且 空间 检测 plist基本缺陷列表 primary defect list
原文地址：http://12958700.blog.51cto.com/12948700/1931572
