[BASIC-23] 芯片测试

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1、测试结果矩阵中，第 i 列表示第 i 块芯片被其他芯片测试的结果

2、好芯片比坏芯片多，说明第 i 块芯片如果是好的，那么第 i 列数据中，1 的个数肯定多余 n / 2 ；如果是坏的，就少于 n / 2

import java.util.Scanner;

public class Main {

	public static void main(String[] args) {
		Scanner scanner = new Scanner(System.in);

		while (scanner.hasNext()) {
			int n = scanner.nextInt();

			int[] count = new int[n];// 记录第i块芯片测试结果中1出现的个数
			int[][] result = new int[n][n];// 测试结果数据
			
			for (int i = 0; i < n; i++) {
				for (int j = 0; j < n; j++) {
					result[i][j] = scanner.nextInt();
					if (result[i][j] == 1) {
						count[j]++;
					}
				}
			}

			for (int i = 0; i < n; i++) {
				if (count[i] > n / 2) {
					System.out.print(i + 1);
					System.out.print(i == n - 1 ? "\r\n" : " ");
				}
			}
		}
	}
}

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原文地址：http://blog.csdn.net/u011506951/article/details/26611781