标签：芯片 随机 statement space spl sed cti 技术 time
有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n×n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i，j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号。
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
1 3
这道题表面上看起来是比较麻烦的模拟，但是可以根据其种好芯片比坏芯片多，即好芯片册数量占总数的一半以上，来排毒按是否是好芯片。
#include <iostream> #include <cstdio> #define MAXN 21 using namespace std; int n; int a[MAXN][MAXN]; int b[MAXN]; int main() { cin >> n; for(register int i = 1; i <= n; i++) for(register int j = 1; j <= n; j++) cin >> a[i][j]; for(register int i = 1; i <= n; i++) { int num = 0; for(register int ii = 1; ii <= n; ii++) { for(register int j = 1; j <= n; j++) { if(a[i][j] != a[ii][j]) break; else if(j == n) b[ii] = i, num++; } } if(num > n / 2) { for(register int ii = 1, op = 0; ii <= n; ii++) if(b[ii] == i) { op ? putchar(‘ ‘) : op = 1; cout << ii; } break; } } return 0; }
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原文地址：https://www.cnblogs.com/kcn999/p/10293077.html
